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廣東海銀試驗裝備有限公司
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冷熱沖擊試驗箱
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三箱式冷熱沖擊試驗箱
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
冷熱沖擊試驗箱測試要求
COK-150T-3H
三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計制造,適用于航空、航太、**、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗。供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗,以便對試品或試品試驗行為作出評價。 特點 利用低溫及高溫蓄冷熱槽,依氣缸閥門動作需要,將高溫能量及低溫能量送至到試驗槽內(nèi),從而達到快速溫度沖擊效果,平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+特殊設(shè)計之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以PID方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的使用。
冷熱沖擊試驗箱
COK-252T-3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
三箱冷熱沖擊試驗箱工作原理
COK-150-3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊試驗箱工作原理
COK-252L-3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊試驗箱 兩槽溫度沖擊
COK—150G—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱溫度沖擊三箱式試驗箱
COK—80T—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱測試
COK-252-3H-6
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊試驗箱工作原理
COK-408-3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
三箱冷熱沖擊試驗箱
COK-252-3H-32
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊循環(huán)試驗箱
COK-252-3H-88
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
高低溫冷熱沖擊兩槽試驗箱
COK—50—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
高低溫冷熱沖擊兩槽式試驗箱
COK—150—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱溫度沖擊兩槽式試驗箱
COK—80—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱溫度沖擊兩槽式試驗箱
COK—100—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊試驗箱溫度沖擊兩槽
COK—800—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
冷熱沖擊試驗箱 兩槽溫度沖擊
COK—408—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
溫度循環(huán)冷熱沖擊 兩廂式
COK—150—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式
COK—80—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式
COK-150-3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
三廂式高低溫循環(huán)冷熱沖擊
COK—408—3H
在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,借以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
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