WK6500B系列穩(wěn)科精密介電常數測試儀的相關介紹
1J6505B 20Hz~5MHz
1J6510B 20Hz~10MHz
1J6515B 20Hz~15MHz
1J6520B 20Hz~20MHz
1J6530B 20Hz~30MHz
1J6550B 20Hz~50MHz
1J65120B 20Hz~120MHz
●產品特色
1.簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內輕易上手
2.電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案
3.30 ms超高速測試速度
4.等效Rdc可高度精準四線式測試，量測到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可內建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級
，*高升級到120MHz
9.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數據
11.具等效電路仿真功能，內建同頻率LCR Meter一臺
準確快速的進行元件測試,±0.05%基本**度。
精準和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應用程式的理想選擇。使用者包括被動元件設計師，電介體、絕緣體的設計測試人員，及生產線的測試人員。
工程師需要在高頻率的狀況下以極高的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準確易用的理想測試工具。
●測試參數
電容(C),電感(L),電阻(R),電導(G),電納(B),電抗(X),損耗因數(D),品質因數(Q),阻抗(Z),導納(Y),相位角(θ)、介電常數（ε′ ??相對介電常數實部、ε′′r相對介電常數虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ ′ ??相對磁導率實部、μ′′r相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）
●高精度量測
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數D**度為±0.0005及品質因數Q**度為±0.05%。
●元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設備還是一個包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據頻率、電壓值和直流偏流源同時在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數的曲線。顯示格式包括串聯或并聯等效電路。
單測某一頻率時可以從曲線掃描轉換成標準LCR表讀值模式。
●可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達1V或20mA，實現在真實操作環(huán)境中來評估元件?？勺兤珘褐绷髟纯商峁┻_100mA的電流.
●外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應許多不同的測試環(huán)境.
●多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機,這種功能為生產環(huán)境或教學培訓都提供無法衡量的價值.本機還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中,提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
●資料儲存和提取
所有的測試結果及設制都可以通過網路介面或USB閃盤來儲存.
●分類處理介面
Bin Handler為可選設制,通過25相D型接頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.
●印表機輸出
測試結果可通過幾種不同的途經列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機, EPSON相匹配的文字印表機或直接通過儀器的網口經局域網列印.
●待測元件連接
可通過面板的BNC接頭來實現倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.
●充電電容保護
高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產. 6500系列有內置的保護來避免這種情況發(fā)生.
●綜合,**的高頻測試
“綜合,**的高頻測試”使該系列產品是高要求測試的優(yōu)良選擇.
測試夾具選擇
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介電常數測試治具
（40MHz）
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液體介電常數測試治具
（30MHz）
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二線制DIP測試治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二線制SMD測試治具（彈片型）
（120MHz）
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二線制SMD測試治具（探針型）
（120MHz）
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四線制DIP 測試治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四線制SMD測試治具
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二線制SMD高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
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四線制轉二線制高頻轉接頭
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探針式測量治具
（120MHz）
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二線制SMD底部電極測試夾具
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四線制SMD底部電極測試夾具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（40A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四線制DIP高電流測試治具
（20A）
（120MHz）
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四線制DIP高電流測試治具
（60A）
（120MHz）
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二線制DIP高電流測試治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四線制DIP高電流測試治具
（250A）
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電容充放電保護單元
（3MHz）
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高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置電流夾具適配器
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四轉一測試夾具
（120MHz）
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四轉二測試夾具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四線式DIP測試治具
(1MHz)
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四線式測試夾具
(3MHz)
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兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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兩線式探針型高頻測試線SMD
(50MHz)
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精密型測試夾具
(3MHz)
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD鑷子式高精密測試夾具
(120MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
(3MHz)
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鑷子式高精密測試夾具
（大型）
(3MHz)
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