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華測(cè)儀器新研發(fā)：表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)
日期：2025-06-07 18:13
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摘要：近日，華測(cè)儀器推出新產(chǎn)品：表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)，用于評(píng)估介質(zhì)材料表面電荷動(dòng)態(tài)衰減行為及陷阱能級(jí)分布。
表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)
表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)是一款面向材料電學(xué)特性研究的高精度、多功能分析設(shè)備，**評(píng)估介質(zhì)材料表面電荷動(dòng)態(tài)衰減行為及陷阱能級(jí)分布而設(shè)計(jì)，集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號(hào)采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動(dòng)態(tài)響應(yīng)，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)量控制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。1.產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
高壓極化與準(zhǔn)確控制- 支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負(fù)載調(diào)整率≤0.5%，穩(wěn)定性≤0.1%/h，確保極化過(guò)程穩(wěn)定可靠。
- 高精度控溫加熱臺(tái)（室溫~160℃，±0.2℃），結(jié)合濕度可調(diào)電極箱體，滿足復(fù)雜環(huán)境模擬需求。
- 電位測(cè)量范圍達(dá)±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應(yīng)，準(zhǔn)確捕捉瞬態(tài)電位變化。
- 配備專用采集卡與中文分析軟件，自動(dòng)提取陷阱分布參數(shù)，一鍵生成衰減曲線及深度分析報(bào)告。
- 提供銀/黃銅材質(zhì)針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動(dòng)態(tài)可調(diào)，適配不同樣品形態(tài)與測(cè)試場(chǎng)景。
- 集成化電極箱體整合加熱臺(tái)、支架及濕度模塊，大幅提升實(shí)驗(yàn)效率與重復(fù)性。
- 電壓調(diào)整率≤0.1%，溫度系數(shù)≤0.1%/℃，確保長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試數(shù)據(jù)一致性；輸出電流限制≤1 mA，符合高壓操作防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。
2.技術(shù)參數(shù)
充電電源：±30 kV加熱臺(tái)溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
額定輸出電流：≤ 1 mA
溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃
測(cè)量范圍：0 ~ ±10 kV
穩(wěn)定性：時(shí)間漂移<100 ppm/小時(shí)（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
電極材質(zhì)：銀或黃銅
3.應(yīng)用領(lǐng)域
絕緣材料研發(fā)評(píng)估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng)；
半導(dǎo)體器件優(yōu)化
表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性；
科研與教育
高校及實(shí)驗(yàn)室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實(shí)驗(yàn)；
電力設(shè)備質(zhì)檢
檢測(cè)絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測(cè)。
